多位置漫射光譜數(shù)據(jù)的處理、建模、預(yù)測(cè)方法和處理裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201410508057.2 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN105510238B 公開（公告）日 2019-04-05
申請(qǐng)公布號(hào) CN105510238B 申請(qǐng)公布日 2019-04-05
分類號(hào) G01N21/25（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 徐可欣; 劉瑾; 張婉潔 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 天津先陽科技發(fā)展有限公司
代理機(jī)構(gòu) 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 代理人 天津先陽科技發(fā)展有限公司
地址 300457 天津市塘沽區(qū)天津開發(fā)區(qū)第五大街41號(hào)B區(qū)五層6號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 公開了多位置漫射光譜數(shù)據(jù)的處理方法、建模方法、預(yù)測(cè)方法和處理裝置。一示例光譜數(shù)據(jù)處理方法可以包括：使用探測(cè)光，對(duì)包含特定成分的被測(cè)介質(zhì)進(jìn)行照射；獲得被測(cè)介質(zhì)在第一徑向位置處的第一光譜數(shù)據(jù)以及在第二徑向位置處的第二光譜數(shù)據(jù)，其中所述第一徑向位置和所述第二徑向位置是任意選擇的；以及對(duì)第一光譜數(shù)據(jù)和第二光譜數(shù)據(jù)進(jìn)行差分處理。