漫反射光譜中抑制溫度干擾的方法、光譜分析方法及裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201711473774.6 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN109991194A 公開(kāi)（公告）日 2019-07-09
申請(qǐng)公布號(hào) CN109991194A 申請(qǐng)公布日 2019-07-09
分類號(hào) G01N21/47（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 吳明磊; 劉蓉; 徐可欣 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 天津先陽(yáng)科技發(fā)展有限公司
代理機(jī)構(gòu) 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 代理人 天津先陽(yáng)科技發(fā)展有限公司
地址 300192 天津市濱海新區(qū)天津開(kāi)發(fā)區(qū)第五大街41號(hào)B區(qū)五層6號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本公開(kāi)提供一種漫反射光譜中抑制溫度干擾的方法、光譜分析方法及裝置，包括：確定溫度干擾因素對(duì)光譜測(cè)量的干擾模式；所述干擾模式包括：源?探測(cè)器距離的改變；基于所述干擾模式，確定所述源?探測(cè)器距離的特殊值，使漫反射光譜在所述源?探測(cè)器距離的特殊值下抑制了溫度干擾因素對(duì)光譜測(cè)量的干擾。利用溫度不敏感源?探測(cè)器距離處不包含溫度干擾的信息，選取溫度不敏感源?探測(cè)器距離進(jìn)行漫反射光譜分析可以有效避免溫度變化的干擾，提高分析結(jié)果的可靠性；并且整個(gè)過(guò)程簡(jiǎn)單、方便；同時(shí)應(yīng)用范圍廣泛。