讀出錯測試方法與裝置
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN201610814329.0 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN107808686B | 公開（公告）日 | 2018-03-16 |
| 申請公布號 | CN107808686B | 申請公布日 | 2018-03-16 |
| 分類號 | G11C29/18(2006.01)I;G11C29/44(2006.01)I | 分類 | - |
| 發(fā)明人 | 黃吉瓊 | 申請（專利權(quán)）人 | 上海曼卜信息科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京清亦華知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 北京憶恒創(chuàng)源科技有限公司 |
| 地址 | 100192北京市海淀區(qū)西小口路東升科技園B-2號樓3層302室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種固態(tài)存儲設(shè)備的測試方法及裝置。固態(tài)存儲設(shè)備包括S+1個邏輯單元，S+1個邏輯單元提供多個頁條帶，頁條帶包括S+1個物理頁，頁條帶中的S+1個物理頁來自S+1個邏輯單元的每一個，每個物理頁容納一個邏輯頁。固態(tài)存儲設(shè)備的測試方法包括：向連續(xù)的邏輯地址A到邏輯地址A+S寫入數(shù)據(jù)，其中，數(shù)據(jù)被寫入頁條帶0，以及頁條帶1的物理頁0；向連續(xù)的邏輯地址A+1到邏輯地址S+A+1寫入數(shù)據(jù)；擦除頁條帶0與頁條帶1所在的物理塊；向頁條帶0的物理頁0與頁條帶1的物理頁1寫入存在不可糾正錯誤的數(shù)據(jù)；從邏輯地址A與A+1讀取數(shù)據(jù)。本發(fā)明的實(shí)施例可以同時觸發(fā)對多個存在不可糾正錯誤數(shù)據(jù)幀的頁條帶的讀操作，從而測試固態(tài)存儲設(shè)備能否正確工作。?? |
