一種適用于半導(dǎo)體封裝射頻高頻信號測試用夾治具

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110810971.2 申請日 -
公開（公告）號 CN113484727A 公開（公告）日 2021-10-08
申請公布號 CN113484727A 申請公布日 2021-10-08
分類號 G01R31/28（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 何均 申請（專利權(quán)）人 深圳芯經(jīng)緯科技有限公司
代理機構(gòu) 荊門市森皓專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 王麗
地址 518110廣東省深圳市龍華區(qū)觀瀾街道大富社區(qū)桂月路334號硅谷動力汽車電子創(chuàng)業(yè)園A8棟301
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種適用于半導(dǎo)體封裝射頻高頻信號測試用夾治具，包括測試電路板，測試電路板的上側(cè)設(shè)置有芯片放置座，芯片放置座包括上針座、下針板、彈性針和限位塊，還包括手動壓座，手動壓座包括上蓋，上蓋的一側(cè)鉸接的卡扣，上蓋內(nèi)部設(shè)置開設(shè)有上下貫通的通孔，通孔的內(nèi)部螺旋連接有螺旋件，螺旋件的上端固定連接有旋扭蓋，螺旋件的下端固定連接有連接塊。本發(fā)明通過測試電路板和芯片放置座的設(shè)置，可完成自動測試，配合手動壓座的設(shè)置，使該治具既可以使用在自動測試場合，又可以使用在手動測試場合，且旋轉(zhuǎn)旋扭蓋的過程中，由于設(shè)置有限位槽和限位柱，可以避免旋轉(zhuǎn)過度造成的損壞，提升了該治具的實用性。