一種量子芯片檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910803521.3 申請日 -
公開（公告）號 CN112444713B 公開（公告）日 2021-10-08
申請公布號 CN112444713B 申請公布日 2021-10-08
分類號 G01R31/28 分類 測量；測試;
發(fā)明人 孔偉成;朱美珍;楊夏;趙勇杰 申請（專利權(quán)）人 合肥本源量子計算科技有限責(zé)任公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 230088 安徽省合肥市高新區(qū)創(chuàng)新大道2800號創(chuàng)新產(chǎn)業(yè)園二期E2樓六層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明屬于芯片測試領(lǐng)域，具體公開了一種量子芯片檢測方法。所述量子芯片上設(shè)置有多個一一對應(yīng)的且相互耦合的量子比特裝置和量子比特探測器、并聯(lián)連接各個所述量子比特探測器的數(shù)據(jù)傳輸總線、耦合連接所述量子比特裝置的第一控制信號傳輸線。所述數(shù)據(jù)傳輸總線用于接收量子比特讀取信號和發(fā)射量子比特讀取反饋信號，借助所述量子比特讀取信號和所述量子比特讀取反饋信號，依次檢測并確定所述數(shù)據(jù)傳輸總線的傳導(dǎo)性、所述量子比特探測器的工作參數(shù)以及工作性能；進(jìn)而在所述第一控制信號傳輸線上施加直流偏置調(diào)控信號，檢測所述第一控制信號傳輸線的傳導(dǎo)性以及所述量子比特裝置的工作性能，判斷量子芯片是否合格，提供了量子芯片的標(biāo)準(zhǔn)檢測方法。