一種半導(dǎo)體量子點(diǎn)器件
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202120434495.4 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN214378456U | 公開(公告)日 | 2021-10-08 |
申請公布號 | CN214378456U | 申請公布日 | 2021-10-08 |
分類號 | H01L29/66(2006.01)I;H01L29/10(2006.01)I;H01L29/45(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 孔偉成;張輝;趙勇杰 | 申請(專利權(quán))人 | 合肥本源量子計(jì)算科技有限責(zé)任公司 |
代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
地址 | 230088安徽省合肥市合肥市高新區(qū)創(chuàng)新大道2800號創(chuàng)新產(chǎn)業(yè)園二期E2樓六層 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請公開了一種半導(dǎo)體量子點(diǎn)器件,包括硅基底;位于所述硅基底上的二氧化硅層,所述二氧化硅層上形成有離子注入窗口,其中,所述離子注入窗口用于向所述硅基底注入離子;位于所述二氧化硅層上的第一絕緣層,所述第一絕緣層上形成有與所述注入離子歐姆接觸的歐姆電極;位于所述二氧化硅層上的量子點(diǎn)窗口,所述量子點(diǎn)窗口位于所述歐姆電極之間且裸漏出所述二氧化硅層;位于所述量子點(diǎn)窗口內(nèi)的第一金屬電極和磁體,其中,所述第一金屬電極層疊布置,所述第一金屬電極用于形成量子點(diǎn),所述磁體用于對所述量子點(diǎn)進(jìn)行調(diào)控。通過在所述量子點(diǎn)窗口內(nèi)形成層疊的第一金屬電極,可以對第一金屬電極的尺寸和相對位置進(jìn)行調(diào)整,提高了量子點(diǎn)參數(shù)的可調(diào)性。 |
