低壓變頻器老化測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010948693.2 申請日 -
公開（公告）號 CN113466575A 公開（公告）日 2021-10-01
申請公布號 CN113466575A 申請公布日 2021-10-01
分類號 G01R31/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張樹林;陳萬燕;錢永;鄧得寬 申請（專利權）人 成都希望電子研究所有限公司
代理機構 - 代理人 -
地址 610225四川省成都市雙流區(qū)西航港機場路181號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開一種低壓變頻器老化測試裝置，該裝置由n臺被測變頻器、n組LC濾波器、電感、回饋變頻器及環(huán)網(wǎng)接觸器KM1組成。將第一臺被測變頻器三相輸入端連接電網(wǎng)，三相輸出端接LC濾波器，再串聯(lián)接到下一臺被測變頻器，如此循環(huán)，實現(xiàn)級聯(lián)老化，將最后一臺串聯(lián)被測變頻器輸出端接LC濾波器，再串聯(lián)電感后接到回饋變頻器輸入端，其輸出端串接LC濾波器，通過環(huán)網(wǎng)接觸器KM1連接到電網(wǎng)。本發(fā)明整個測試系統(tǒng)中無電機，提高了變頻器老化效率及老化裝置可靠性，降低變頻器老化能耗及負載電機維護成本。