埋層終端結(jié)構(gòu)及其制備方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110695201.8 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113314600A | 公開(公告)日 | 2021-08-27 |
申請公布號 | CN113314600A | 申請公布日 | 2021-08-27 |
分類號 | H01L29/40(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 李偉聰;林泳浩;姜春亮;王雯沁 | 申請(專利權(quán))人 | 珠海市浩辰半導(dǎo)體有限公司 |
代理機構(gòu) | 深圳市嘉勤知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 劉自麗 |
地址 | 519000廣東省珠海市高新區(qū)唐家灣鎮(zhèn)軟件園路1號會展中心1#四層5單元 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請公開一種埋層終端結(jié)構(gòu)及其制備方法,其中,埋層終端結(jié)構(gòu)包括N?型半導(dǎo)體漂移區(qū),N?型半導(dǎo)體漂移區(qū)包括P型半導(dǎo)體場限環(huán)、P?型半導(dǎo)體埋層和N+型半導(dǎo)體場限環(huán),P?型半導(dǎo)體埋層中的摻雜離子的濃度小于P型半導(dǎo)體場限環(huán)中的摻雜離子的濃度;絕緣介質(zhì)層,設(shè)于N?型半導(dǎo)體漂移區(qū)的上表面,分別與P型半導(dǎo)體場限環(huán)的部分上表面、P?型半導(dǎo)體埋層的部分上表面和N+型半導(dǎo)體場限環(huán)的部分上表面接觸,與P?型半導(dǎo)體埋層的接觸區(qū)設(shè)有接觸孔;第一場板,通過接觸孔與P?型半導(dǎo)體埋層接觸。本申請可以使埋層終端結(jié)構(gòu)在高溫下不容易擊穿,可靠性和穩(wěn)定性更好。 |
