一種二維單射曲面數(shù)據(jù)的特征提取與匹配方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201010500552.0 申請日 -
公開（公告）號 CN101957992A 公開（公告）日 2011-01-26
申請公布號 CN101957992A 申請公布日 2011-01-26
分類號 G06T7/00(2006.01)I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 吳靜;劉永進(jìn);羅曦 申請（專利權(quán)）人 蘇州國溯科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京鴻元知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 清華大學(xué);蘇州國溯環(huán)境發(fā)展有限公司
地址 100084 北京市100084信箱82分箱清華大學(xué)專利辦公室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種二維單射曲面數(shù)據(jù)的特征提取和匹配方法，該方法首先將二維單射曲面數(shù)據(jù)投影到灰度值與數(shù)據(jù)值成正比的灰度圖像，并將圖像中的灰度值歸一化到區(qū)間[0，255]中，然后從圖像中提取特征點(diǎn)集；以特征點(diǎn)集中的每一個(gè)特征點(diǎn)作為參考點(diǎn)，在圖像中繪制通過該特征點(diǎn)的等灰度線，且在圖像中連接同一等灰度線上的特征點(diǎn)，這些等灰度線以及特征點(diǎn)之間的連線將圖像劃分成連續(xù)的區(qū)域塊，根據(jù)區(qū)域塊之間的包圍和相鄰關(guān)系構(gòu)造一個(gè)Reeb圖。對于需要匹配的兩個(gè)二維單射曲面數(shù)據(jù)，通過匹配兩個(gè)Reeb圖中的結(jié)點(diǎn)，計(jì)算結(jié)點(diǎn)之間的相似度，所有匹配結(jié)點(diǎn)的相似度之和為兩個(gè)二維單射曲面數(shù)據(jù)之間的相似度。本發(fā)明所提供的方法使得提取的特征容易計(jì)算，并且穩(wěn)定性強(qiáng)。