一種閃存芯片可靠性檢測的檢測方法及檢測裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010808124.8 申請日 -
公開（公告）號 CN114077509A 公開（公告）日 2022-02-22
申請公布號 CN114077509A 申請公布日 2022-02-22
分類號 G06F11/00（2006.01）I;G06F8/61（2018.01）I;G11C29/44（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 吳耀虎;黃衍軍;吳大畏;李曉強;韓國軍 申請（專利權）人 得一微電子股份有限公司
代理機構 - 代理人 -
地址 518000廣東省深圳市南山區(qū)粵海街道科技園南十二路18號長虹科技大廈6樓09-2、10-11單元
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請涉及一種閃存芯片可靠性檢測的檢測方法及檢測裝置，屬于固態(tài)存儲檢測技術領域，其包括以下步驟：將閃存芯片安裝到測試架中；使用MPTool燒錄RDT代碼到閃存芯片中；將成功燒錄RDT代碼的閃存芯片連同測試架一起插到高溫箱中的供電接口上；給SATA供電接口通電，使得SATA芯片的BOOT從閃存芯片中加載RDT代碼到SATA芯片的RAM中；SATA芯片加載完成后開始進入RDT脫機掃描流程；SATA芯片對閃存芯片進行掃描，找出閃存芯片中的壞塊并生成壞塊信息；SATA芯片通過分析壞塊信息來計算出閃存芯片的顆粒品質(zhì)并對閃存芯片顆粒品質(zhì)等級進行劃分；SATA芯片通過驅(qū)動提示單元提示對應的閃存芯片顆粒品質(zhì)等級。本申請具有提高產(chǎn)品的生產(chǎn)效率的效果。