FinFET的摻雜方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201510107549.5 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN106033715B | 公開(kāi)(公告)日 | 2019-03-22 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN106033715B | 申請(qǐng)公布日 | 2019-03-22 |
分類(lèi)號(hào) | H01L21/265(2006.01)I; H01L21/336(2006.01)I | 分類(lèi) | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 洪俊華; 吳漢明; 陳炯; 張勁 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 | 上海臨港凱世通半導(dǎo)體有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 上海弼興律師事務(wù)所 | 代理人 | 上海臨港凱世通半導(dǎo)體有限公司 |
地址 | 201306 上海市浦東新區(qū)南匯新城鎮(zhèn)竹柏路750號(hào)207室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)了一種FinFET的摻雜方法,該FinFET包括襯底和位于襯底上平行間隔設(shè)置的Fin,每根Fin包括頂面、第一側(cè)壁和第二側(cè)壁,該摻雜方法包括以下步驟:T1、在Fin的頂面、第一側(cè)壁和第二側(cè)壁中形成摻雜層;T2、將惰性元素沿著該襯底的法線(xiàn)方向注入至Fin的頂面中以減小頂面中摻雜元素的劑量。本發(fā)明通過(guò)較長(zhǎng)時(shí)間的離子注入實(shí)現(xiàn)注入的飽和,并在側(cè)壁完成注入之后增加一道注入的工藝,以實(shí)現(xiàn)Fin的均勻摻雜。 |
