基于差值圖像的電路元件缺失檢測(cè)方法、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202210245465.8 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN114596294A 公開（公告）日 2022-06-07
申請(qǐng)公布號(hào) CN114596294A 申請(qǐng)公布日 2022-06-07
分類號(hào) G06T7/00;G06T7/73;G06K9/62;G06V10/762 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 梁言賀;劉惠穎;宮游;李興剛;王曉宇;殷鑫;滿江雪;李琦;程志華;商鐵濱;孫海強(qiáng);溫智偉;殷聰;呂榮 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 哈爾濱電工儀表研究所有限公司
代理機(jī)構(gòu) 哈爾濱市晨晟知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 劉文權(quán)
地址 150090 黑龍江省哈爾濱市南崗區(qū)嵩山路21號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 基于差值圖像的電路元件缺失檢測(cè)方法、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，屬于電路元件缺失檢測(cè)領(lǐng)域，是針對(duì)智能電表在生產(chǎn)過程中所出現(xiàn)的電路板元件缺失檢測(cè)的問題，靠人眼對(duì)電路元器件進(jìn)行缺失檢測(cè)，這種方法對(duì)檢測(cè)人員具有較高的要求，容易造成誤檢和漏檢的問題所提出，步驟S1，獲得標(biāo)準(zhǔn)電路板灰度圖像IS和待檢測(cè)電路板灰度圖像IP，得到NG幅不重疊的子圖Iq；步驟S2，對(duì)每幅子圖Iq進(jìn)行特征向量提取，以特征向量為判斷依據(jù)，判斷每幅子圖Iq范圍內(nèi)是否存在元件缺失情況，從而確定電路板上的發(fā)生元件缺失的位置，并將該信息發(fā)送給檢測(cè)人員?？梢栽陔娐钒遒|(zhì)量檢測(cè)環(huán)節(jié)中識(shí)別電路中的缺失元件并對(duì)其進(jìn)行定位，降低誤檢率從而提高產(chǎn)品合格率。