基于半導(dǎo)體致冷技術(shù)的靜電收集法測氡裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201611223877.2 申請日 -
公開（公告）號 CN106950591A 公開（公告）日 2017-07-14
申請公布號 CN106950591A 申請公布日 2017-07-14
分類號 G01T1/36 分類 測量；測試;
發(fā)明人 馮威鋒;王騰飛;關(guān)鍵;曹放;丁海云;侯江;柳杰 申請（專利權(quán)）人 中核資源發(fā)展有限公司
代理機(jī)構(gòu) 核工業(yè)專利中心 代理人 核工業(yè)北京化工冶金研究院;中核華創(chuàng)稀有材料有限公司
地址 101149 北京市通州區(qū)九棵樹145號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明屬于測氡儀技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種基于半導(dǎo)體致冷技術(shù)的靜電收集法測氡裝置。包括濾膜、采樣泵、半導(dǎo)體致冷片的熱面、半導(dǎo)體制冷片的冷面、收集腔、半導(dǎo)體探測器、放大電路、隔熱層和能譜分析系統(tǒng)；樣品氣體通過濾膜和采樣泵進(jìn)入收集腔，收集腔貼裝在半導(dǎo)體制冷片的冷面，半導(dǎo)體探測器位于收集腔內(nèi)部，放大電路位于收集腔外，半導(dǎo)體致冷片的冷面、收集腔和放大電路被隔熱層包裹，半導(dǎo)體致冷片的熱面貼裝有散熱器，能譜分析系統(tǒng)與放大電路連接。本發(fā)明能夠解決樣品氣體溫濕度對靜電收集法測氡儀的影響問題；同時解決半導(dǎo)體探測器和放大電路的溫漂問題，降低對半導(dǎo)體探測器和放大電路的性能要求，大幅降低儀器成本。