一種可增強(qiáng)通流能力的單向ESD保護(hù)器件及其制作方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202111105478.7 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113690233A | 公開(公告)日 | 2021-11-23 |
申請公布號 | CN113690233A | 申請公布日 | 2021-11-23 |
分類號 | H01L27/02;H01L29/06;H01L21/77 | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 宋文龍;楊玨琳;張鵬;許志峰 | 申請(專利權(quán))人 | 成都吉萊芯科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 南京正聯(lián)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 查鑫利 |
地址 | 610096 四川省成都市自由貿(mào)易試驗區(qū)成都高新區(qū)世紀(jì)城南路599號6棟5層505號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種可增強(qiáng)通流能力的單向ESD保護(hù)器件及其制作方法,包括P型單晶材料、N+擴(kuò)散區(qū)、P+擴(kuò)散區(qū)、P擴(kuò)散區(qū)、表面鈍化層、金屬層Ⅰ、金屬層Ⅱ,其中P擴(kuò)散區(qū)在金屬層Ⅰ下方N+擴(kuò)散區(qū)至金屬層Ⅱ下方N+擴(kuò)散區(qū)之間濃度逐漸降低,本發(fā)明在P擴(kuò)散區(qū)光刻窗口的設(shè)計中,窗口的尺寸依次可以命名為:L1、L2、L3、L4、L5,窗口間距的尺寸依次可以命名為:D1、D2、D3、D4,L5>L4>L3>L2>L1,D1>D2>D3>D4,從而獲P擴(kuò)散區(qū),從N+擴(kuò)散區(qū)(金屬層Ⅱ下方)到N+擴(kuò)散區(qū)(金屬層Ⅰ下方),P擴(kuò)散區(qū)的濃度逐漸降低,形成由左至右的內(nèi)建電場,從而可以獲得更高的通流能力,通過合理設(shè)計P擴(kuò)散區(qū)的光刻窗口尺寸,與常規(guī)結(jié)構(gòu)相比,本發(fā)明的通流能力可以比常規(guī)結(jié)構(gòu)提高20?40%。 |
