一種單晶爐液口距設(shè)置方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202111266358.5 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN113913922A | 公開(kāi)(公告)日 | 2022-01-11 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN113913922A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-01-11 |
分類(lèi)號(hào) | C30B15/20(2006.01)I;C30B29/06(2006.01)I | 分類(lèi) | 晶體生長(zhǎng)〔3〕; |
發(fā)明人 | 王新強(qiáng);張存江;羅良良 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 | 雙良硅材料(包頭)有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 駱英靜 |
地址 | 014062內(nèi)蒙古自治區(qū)包頭市稀土開(kāi)發(fā)區(qū)濱河新區(qū)翠湖路35號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)了一種單晶爐液口距設(shè)置方法,該方法包括步驟:將設(shè)置有定位裝置的熱屏下降到單晶爐的預(yù)設(shè)位置,所述定位裝置用于定位籽晶的第一下降位置的定位裝置,所述第一下降位置與所述熱屏的下沿的距離為a;將籽晶下降至第一下降位置;將籽晶由第一下降位置繼續(xù)下降至第二下降位置,所述第二下降位置位于所述熱屏下沿以下,所述第二下降位置與所述第一下降位置的距離為L(zhǎng),其中L=H+a,H為液口距;將坩堝上升至坩堝內(nèi)部的硅料液面與位于第二下降位置的籽晶下端接觸,停止上升坩堝。本發(fā)明提供的單晶爐液口距設(shè)置方法通過(guò)定位裝置預(yù)先將籽晶下降至工藝要求的液口距,再上升坩堝使硅料液面與籽晶接觸,提高了液口距設(shè)置的準(zhǔn)確一致性。 |
