測試機構(gòu)及分光機

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202122217723.5 申請日 -
公開（公告）號 CN215997637U 公開（公告）日 2022-03-11
申請公布號 CN215997637U 申請公布日 2022-03-11
分類號 B07C5/342（2006.01）I;B07C5/344（2006.01）I 分類 將固體從固體中分離；分選;
發(fā)明人 段雄斌;周巍;曹亮;何選民 申請（專利權(quán)）人 深圳市標譜半導(dǎo)體股份有限公司
代理機構(gòu) 深圳中一聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 賀鵬
地址 518000廣東省深圳市寶安區(qū)航城街道三圍社區(qū)內(nèi)環(huán)路同富裕工業(yè)園茶樹A棟1層、2層、3層、5層、7層、8層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請?zhí)峁┝艘环N測試機構(gòu)及分光機，該測試機構(gòu)用于對分選件進行測試，包括：支撐座，用于支撐分選件，支撐座上開設(shè)有通孔；測試針，位于支撐座的下方；測試驅(qū)動組件，與測試針相連，用于驅(qū)動測試針進出通孔以使該測試針靠近或遠離分選件。本申請通過支撐座將分選件支撐，在支撐座的下方設(shè)置測試針和用于驅(qū)動測試針升降的測試驅(qū)動組件。當(dāng)測試驅(qū)動組件驅(qū)動測試針上升時，測試針穿過支撐座上的通孔并與分選件的引腳接觸導(dǎo)通，從而可對分選件進行測試。特別是對于引腳位于底部的球頭LED芯片來說，本申請?zhí)峁┑臏y試機構(gòu)對于該類LED芯片的測試操作方便快捷，有助于提高測試精度。