用于檢測和調(diào)試設(shè)備成像光路的工裝、檢測系統(tǒng)和方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110458658.7 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113204176A | 公開(公告)日 | 2021-08-03 |
申請公布號 | CN113204176A | 申請公布日 | 2021-08-03 |
分類號 | G03F7/20(2006.01)I | 分類 | 攝影術(shù);電影術(shù);利用了光波以外其他波的類似技術(shù);電記錄術(shù);全息攝影術(shù)〔4〕; |
發(fā)明人 | 張琦 | 申請(專利權(quán))人 | 合肥芯碁微電子裝備股份有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京景聞知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 朱鴻雁 |
地址 | 230088安徽省合肥市高新區(qū)創(chuàng)新大道2800號創(chuàng)新產(chǎn)業(yè)園二期F3樓11層 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開一種用于檢測和調(diào)試直寫光刻設(shè)備成像光路的工裝、檢測和調(diào)試直寫光刻設(shè)備成像光路的系統(tǒng)以及方法,其中,用于檢測和調(diào)試直寫光刻設(shè)備成像光路的工裝,包括背光組件,背光組件包括光源、光傳輸單元和容納筒,容納筒上設(shè)置有出光孔,光源和光傳輸單元均設(shè)置在容納筒內(nèi),光傳輸單元用于將光源的出射光傳輸至出光孔處;星點板,星點板設(shè)置在出光孔處,星點板上設(shè)置有透光孔陣列,光源的出射光照射到星點板上;連接組件,連接組件用于連接背光組件和待測成像光路,以使得透過星點板的光線通過待測成像光路成像。本發(fā)明實施例的用于檢測和調(diào)試直寫光刻設(shè)備成像光路的工裝便于分析成像光路的像差情況以及調(diào)試成像光路。 |
