一種激光直寫成像設(shè)備內(nèi)層基板的對準(zhǔn)定位方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201910534147.1 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN110308621B | 公開(公告)日 | 2021-09-17 |
申請公布號 | CN110308621B | 申請公布日 | 2021-09-17 |
分類號 | G03F7/20(2006.01)I | 分類 | 攝影術(shù);電影術(shù);利用了光波以外其他波的類似技術(shù);電記錄術(shù);全息攝影術(shù)〔4〕; |
發(fā)明人 | 董帥;王勇 | 申請(專利權(quán))人 | 合肥芯碁微電子裝備股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 合肥天明專利事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 奚華保 |
地址 | 230088安徽省合肥市高新區(qū)創(chuàng)新大道2800號創(chuàng)新產(chǎn)業(yè)園二期F3樓11層 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明是一種激光直寫成像設(shè)備內(nèi)層基板的對準(zhǔn)定位方法,該方法采用內(nèi)層基板上四個端角上的四個通孔作為正反面曝光時的定位標(biāo)識,曝光正面(A面)時,通過設(shè)備中的對位相機(jī)抓取這四個通孔的中心點(diǎn)坐標(biāo)(吸盤),反推出四個通孔靶標(biāo)中心在正面(A面)圖形坐標(biāo)系中的坐標(biāo)值,然后將通孔靶標(biāo)中心在圖形坐標(biāo)系中的坐標(biāo)值作為反面(B面)對位時的參考坐標(biāo)進(jìn)行對位曝光。本發(fā)明避免了現(xiàn)有技術(shù)中成像質(zhì)量受顯色性等因素影響而造成的對準(zhǔn)失敗,有效提高了激光直寫成像設(shè)備內(nèi)層基板對準(zhǔn)定位的準(zhǔn)確度。 |
