Pcie芯片運行狀態(tài)監(jiān)測系統(tǒng)及其監(jiān)測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110351321.6 申請日 -
公開（公告）號 CN113220512A 公開（公告）日 2021-08-06
申請公布號 CN113220512A 申請公布日 2021-08-06
分類號 G06F11/22（2006.01）I;G06F11/26（2006.01）I;G06F11/273（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 沈大圣 申請（專利權）人 無錫芯領域微電子有限公司
代理機構 連云港聯(lián)創(chuàng)專利代理事務所（特殊普通合伙） 代理人 劉剛
地址 214000江蘇省無錫市濱湖區(qū)建筑西路777號A3幢6層615，616室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及芯片技術領域，且公開了Pcie芯片運行狀態(tài)監(jiān)測系統(tǒng)及其監(jiān)測方法，包括底座，所述底座的頂部安裝有熱風機，所述側板的外側安裝有PLC控制器，所述側板的內(nèi)側安裝有溫度傳感器，所述側板的內(nèi)側安裝有理線板，所述理線板的表面均勻開設有理線孔，所述側板的一側設置有透明防護罩，所述側板的內(nèi)側對稱開設有滑槽，所述透明防護罩的一側設置有滑塊，所述透明防護罩的底部設置有限位塊，所述底座的頂部開設有限位孔。該Pcie芯片運行狀態(tài)監(jiān)測系統(tǒng)及其監(jiān)測方法，通過設置理線孔、溫度傳感器、透明防護罩和熱風機，使得本發(fā)明具有理線功能和溫度模擬測試功能，有效提高接線速率與準確性，方便在不同溫度的情況下測試Pcie芯片的運行狀態(tài)，提高測試可靠性。