一種熒光光譜的測試裝置以及熒光光譜的測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910912443.0 申請日 -
公開（公告）號 CN110579458A 公開（公告）日 2019-12-17
申請公布號 CN110579458A 申請公布日 2019-12-17
分類號 G01N21/64（2006.01）; G01J3/44（2006.01） 分類 測量；測試;
發(fā)明人 薛占強; 郭翠; 潘奕 申請（專利權(quán)）人 深圳市太赫茲系統(tǒng)設(shè)備有限公司
代理機構(gòu) 深圳中一聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 深圳市太赫茲科技創(chuàng)新研究院有限公司; 深圳市太赫茲系統(tǒng)設(shè)備有限公司
地址 518000 廣東省深圳市寶安區(qū)西鄉(xiāng)街道寶田一路臣田工業(yè)區(qū)第37棟二樓東
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明屬于熒光光譜技術(shù)測試領(lǐng)域，尤其涉及一種熒光光譜的測試裝置以及熒光光譜的測試方法。熒光光譜的測試裝置，用于獲取待測材料的熒光光譜，其特征在于，熒光光譜的測試裝置包括：激發(fā)結(jié)構(gòu)，包括激發(fā)光源以及角度調(diào)節(jié)機構(gòu)，激發(fā)光源用于生成預(yù)設(shè)波長的激發(fā)光束，激發(fā)光束以預(yù)設(shè)的入射角度入射待測材料表面，角度調(diào)節(jié)機構(gòu)用于調(diào)節(jié)入射角度的值；旋轉(zhuǎn)結(jié)構(gòu)，用于固定待測材料，并根據(jù)用戶輸入的控制指令對待測材料和激發(fā)光源進行同步旋轉(zhuǎn)；以及檢測結(jié)構(gòu)，用于接收待測材料生成的受激光束，并根據(jù)受激光束得到對應(yīng)的熒光光譜。本發(fā)明通過分析在不同旋轉(zhuǎn)角度下測得的熒光光譜，最終得到待測材料的角度分布特性。