帶有片內(nèi)實時校準(zhǔn)的高精度電流采樣電路
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110520954.5 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113252949B | 公開(公告)日 | 2021-11-05 |
申請公布號 | CN113252949B | 申請公布日 | 2021-11-05 |
分類號 | G01R1/20(2006.01)I;G01R1/30(2006.01)I;G01R1/36(2006.01)I;G01R35/00(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 齊偉;王乃龍 | 申請(專利權(quán))人 | 北京芯格諾微電子有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京智宇正信知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 李明卓 |
地址 | 100190北京市海淀區(qū)知春路1號學(xué)院國際大廈18層1801 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明實施例公開了一種帶有片內(nèi)實時校準(zhǔn)的電流采樣電路,所述電流采樣電路用于對驅(qū)動晶體管的導(dǎo)通電流進(jìn)行檢測,其特征在于,該電流采樣電路包括第一電阻、第二電阻、電壓采樣電路、采樣電壓運算電路和導(dǎo)通電阻校準(zhǔn)電路;所述電壓采樣電路用于獲取驅(qū)動晶體管的導(dǎo)通壓降值Vds;所述導(dǎo)通電阻校準(zhǔn)電路包括一標(biāo)準(zhǔn)電流源和一校準(zhǔn)晶體管;所述校準(zhǔn)晶體管的導(dǎo)通電阻值設(shè)置成驅(qū)動晶體管的導(dǎo)通電阻值的K1倍;所述電壓采樣電路獲取的驅(qū)動晶體管的導(dǎo)通壓降值Vds與所述校準(zhǔn)晶體管的導(dǎo)通壓降值Vrsns被輸入采樣電壓運算電路,從而獲得導(dǎo)通壓降值Vds與導(dǎo)通壓降值Vrsns的比例關(guān)系K2;當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)電流源的電流值為Iref時,驅(qū)動晶體管的導(dǎo)通電流Ids為:Ids=K1×K2×Iref。 |
