一種基于天線陣面標(biāo)校的測高精度提高技術(shù)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111443200.0 申請日 -
公開（公告）號 CN114167369A 公開（公告）日 2022-03-11
申請公布號 CN114167369A 申請公布日 2022-03-11
分類號 G01S7/40（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 周健洋;官林海;陳帥;樂意;秦志樂 申請（專利權(quán)）人 南京國睿防務(wù)系統(tǒng)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 南京知識律師事務(wù)所 代理人 劉豐;高嬌陽
地址 210019江蘇省南京市建鄴區(qū)江東中路359號國睿大廈1號樓A區(qū)14樓1401室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種基于天線陣面標(biāo)校的測高精度提高技術(shù)，采用經(jīng)緯儀、靜態(tài)水平儀和動態(tài)水平儀；經(jīng)緯儀標(biāo)校真實(shí)水平度，通過使用經(jīng)緯儀標(biāo)校出的真實(shí)水平度，將結(jié)構(gòu)誤差修正在靜態(tài)水平儀的數(shù)據(jù)中，動態(tài)水平儀安裝在陣面上，采用經(jīng)緯儀標(biāo)校動態(tài)水平儀的系統(tǒng)誤差。本發(fā)明的經(jīng)緯儀用于標(biāo)校真實(shí)水平度利用經(jīng)緯儀的標(biāo)校真值來修正靜態(tài)水平儀和動態(tài)水平儀的測量值，可將靜態(tài)水平儀和動態(tài)水平儀的系統(tǒng)誤差修正到很小的水平，使其水平度精度提高，從而有效提高雷達(dá)的測高精度。