低電壓電容測試系統(tǒng)及方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110668154.8 申請日 -
公開（公告）號 CN113391192A 公開（公告）日 2021-09-14
申請公布號 CN113391192A 申請公布日 2021-09-14
分類號 G01R31/28（2006.01）I;G01R27/26（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李祥;周建宇;黃少海;黨代表 申請（專利權）人 蘇州市運泰利自動化設備有限公司
代理機構 廣州市越秀區(qū)哲力專利商標事務所（普通合伙） 代理人 王忠浩
地址 215000江蘇省蘇州市太湖國家旅游度假區(qū)光福鎮(zhèn)福利村102號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種低電壓電容測試方法，控制端元設定電路導通臨界值，檢測電路導通臨界值是否符合要求，若是，執(zhí)行下一步，若否，重新設定；微型恒流充電單元對待測電容進行充電；電壓檢測單元測量待測電容上的電壓值，生成電容電壓數(shù)據(jù)，頻率檢測單元測量待測電容上的電壓值，生成頻率數(shù)據(jù)；電壓放大單元對電容電壓數(shù)據(jù)進行放大并生成電壓放大數(shù)據(jù)；控制單元根據(jù)電壓放大數(shù)據(jù)、頻率數(shù)據(jù)進行待測試電容的數(shù)據(jù)推算。采用所述恒流放電單元、微型恒流充電單元配合進行電容檢測，可以在IC內(nèi)部電路不導通的情況下進行電容檢測，同時不會影響電容充電，增加了測量的準確性，解決了電容值測試不準確的問題。本發(fā)明還公開了一種低電壓電容測試系統(tǒng)。