一種基于光學相干層析成像系統(tǒng)的密封性檢測方法和終端

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201911323981.2 申請日 -
公開（公告）號 CN110967154B 公開（公告）日 2021-10-12
申請公布號 CN110967154B 申請公布日 2021-10-12
分類號 G01M3/38（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 蘇勝飛 申請（專利權(quán)）人 深圳市重投華訊太赫茲科技有限公司
代理機構(gòu) 深圳中一聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 葉思
地址 518102 廣東省深圳市寶安區(qū)西鄉(xiāng)寶田一路臣田工業(yè)區(qū)37棟二樓東側(cè)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請適用于物品密封性檢測技術(shù)領(lǐng)域，提供了一種基于光學相干層析成像系統(tǒng)的密封性檢測方法和終端，其中，所述密封性檢測方法包括：獲取利用所述光學相干層析成像系統(tǒng)采集的待測物品外表面的干涉信號；對所述干涉信號進行處理，得到所述待測物品外表面的結(jié)構(gòu)圖像，并對所述結(jié)構(gòu)圖像進行密封性分析，判斷所述待測物品是否為密封性良好的物品，實現(xiàn)了待測物品的密封性檢測。