一種基于光學相干層析成像系統(tǒng)的密封性檢測方法和終端
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201911323981.2 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN110967154B | 公開(公告)日 | 2021-10-12 |
申請公布號 | CN110967154B | 申請公布日 | 2021-10-12 |
分類號 | G01M3/38(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 蘇勝飛 | 申請(專利權(quán))人 | 深圳市重投華訊太赫茲科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 深圳中一聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 葉思 |
地址 | 518102 廣東省深圳市寶安區(qū)西鄉(xiāng)寶田一路臣田工業(yè)區(qū)37棟二樓東側(cè) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請適用于物品密封性檢測技術(shù)領(lǐng)域,提供了一種基于光學相干層析成像系統(tǒng)的密封性檢測方法和終端,其中,所述密封性檢測方法包括:獲取利用所述光學相干層析成像系統(tǒng)采集的待測物品外表面的干涉信號;對所述干涉信號進行處理,得到所述待測物品外表面的結(jié)構(gòu)圖像,并對所述結(jié)構(gòu)圖像進行密封性分析,判斷所述待測物品是否為密封性良好的物品,實現(xiàn)了待測物品的密封性檢測。 |
