X射線衍射-熒光雙譜儀

基本信息

申請?zhí)?/td> CN200920105107.7 申請日 -
公開（公告）號 CN201335815Y 公開（公告）日 2009-10-28
申請公布號 CN201335815Y 申請公布日 2009-10-28
分類號 G01N23/207(2006.01)I;G01N23/223(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 江向峰;董連武 申請（專利權(quán)）人 北京北達(dá)燕園科學(xué)服務(wù)中心有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京路浩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 布萊格科技（北京）有限公司;北京布萊格科技有限公司
地址 100871北京市海淀區(qū)中關(guān)村北大街116號北京大學(xué)科技園孵化器2號樓2112室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型涉及一種X射線衍射-熒光雙譜儀，包括X射線源，還包括：硅檢測器、單道脈沖幅度分析器及多道脈沖幅度分析器，所述X射線源產(chǎn)生X射線照射待測樣品；所述硅檢測器對所述待測樣品反射的X射線進(jìn)行檢測并將輸出分別送入所述單道脈沖幅度分析器及多道脈沖幅度分析器；所述單道脈沖幅度分析器僅選通衍射波長，用于獲取待測樣品的X射線衍射譜；所述多道脈沖幅度分析器用于獲取待測樣品的X射線熒光能譜。本實用新型的技術(shù)方案在進(jìn)行衍射圖掃描的同時，獲取樣品的熒光散射能量譜，使儀器在工作時能夠充分獲取樣品的信息，同時得到樣品的X射線衍射譜和樣品的X射線能譜。