一種用于集成電路測試的儀器

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022120308.3 申請日 -
公開（公告）號 CN213149172U 公開（公告）日 2021-05-07
申請公布號 CN213149172U 申請公布日 2021-05-07
分類號 G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I 分類 -
發(fā)明人 夏宇 申請（專利權(quán)）人 泓準(zhǔn)達(dá)電子科技（常州）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京盛凡智榮知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 尚欣
地址 213100江蘇省常州市武進(jìn)國家高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)西湖路8號津通國際工業(yè)園1號樓C區(qū)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種用于集成電路測試的儀器，屬于集成電路領(lǐng)域，包括橫板A，所述橫板A底部固定連接有多個(gè)立柱，所述立柱底部固定連接有橫板B，所述橫板B表面開設(shè)有開槽A，所述開槽A底部開設(shè)有開槽B，所述開槽B內(nèi)部滑動(dòng)連接有滑塊，所述滑塊頂部固定連接有橫塊，所述橫塊表面開設(shè)有孔洞A，可將集成電路放置到橫板B表面開設(shè)的開槽A中，橫塊通過底部固定連接的滑塊在開槽A底部開設(shè)的開槽B中進(jìn)行滑動(dòng)，繼而兩個(gè)橫塊對集成電路進(jìn)行擠壓固定，橫塊通過表面開設(shè)的孔洞A與橫板B表面開設(shè)的孔洞B進(jìn)行對齊，在其中螺緊螺栓B，集成電路測試的儀器其進(jìn)行使用時(shí)具有一個(gè)對齊集成電路進(jìn)行有效多方位固定檢測的裝置，從而提高了整體的檢測效率。??