一種多次外延的超結(jié)器件制作方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201811529741.3 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN109686781B | 公開(公告)日 | 2021-08-03 |
申請公布號 | CN109686781B | 申請公布日 | 2021-08-03 |
分類號 | H01L29/06(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 薛璐;許高潮;張海濤 | 申請(專利權(quán))人 | 無錫紫光微電子有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 無錫市大為專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 曹祖良 |
地址 | 214135江蘇省無錫市新區(qū)菱湖大道200號中國傳感網(wǎng)國際創(chuàng)新園D2棟四層 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明屬于半導(dǎo)體器件的制造技術(shù)領(lǐng)域,涉及一種多次外延的超結(jié)器件制作方法,通過在襯底上生長多層外延層,每層外延層均進(jìn)行普遍注入第二導(dǎo)電類型雜質(zhì)和選擇性注入第一導(dǎo)電類型雜質(zhì),然后高溫推阱,形成多次外延的超結(jié)結(jié)構(gòu);本發(fā)明通過淀積外延+P型離子普注+選擇性注入N型離子+高溫推阱替代現(xiàn)有的淀積外延+N型離子普注+選擇性注入P型離子+高溫推阱,使得形成的P型柱間的間距增大(即N型柱的寬度增大),從而正向?qū)〞r(shí)N型外延層能夠存儲的多數(shù)載流子濃度更大,反向恢復(fù)時(shí)時(shí)間更長,增大了反向恢復(fù)軟度,改善了di/dt、dv/dt動態(tài)參數(shù)特性。 |
