超結(jié)SGT MOS功率半導(dǎo)體器件結(jié)構(gòu)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202022677174.5 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN213184293U | 公開(公告)日 | 2021-05-11 |
申請公布號 | CN213184293U | 申請公布日 | 2021-05-11 |
分類號 | H01L29/06;H01L29/78 | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 廖巍;張海濤 | 申請(專利權(quán))人 | 無錫紫光微電子有限公司 |
代理機構(gòu) | 無錫市大為專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 曹祖良;涂三民 |
地址 | 214135 江蘇省無錫市新區(qū)菱湖大道200號中國傳感網(wǎng)國際創(chuàng)新園D2棟四層 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實用新型涉及一種超結(jié)SGTMOS功率半導(dǎo)體器件結(jié)構(gòu),在第一導(dǎo)電類型襯底上設(shè)有第一導(dǎo)電類型第一外延層、第一導(dǎo)電類型第二外延層、第二導(dǎo)電類型體區(qū)、第一導(dǎo)電類型源區(qū),從第一導(dǎo)電類型源區(qū)的上表面向下開設(shè)有溝槽,在溝槽內(nèi)設(shè)有柵氧化層,在柵氧化層內(nèi)設(shè)有柵極導(dǎo)電多晶硅與屏蔽柵多晶硅,在第一導(dǎo)電類型源區(qū)、柵極導(dǎo)電多晶硅與柵氧化層上設(shè)有絕緣介質(zhì)層,在絕緣介質(zhì)層上設(shè)有源極金屬;在第一導(dǎo)電類型第二外延層內(nèi)設(shè)有第二導(dǎo)電類型柱,相鄰第二導(dǎo)電類型柱之間設(shè)有第一導(dǎo)電類型柱,且第二導(dǎo)電類型柱深入到第一導(dǎo)電類型第一外延層內(nèi)。本實用新型能在實現(xiàn)低的閾值、低導(dǎo)通電阻的情況下承受更高的耐壓以及更加廣泛的安全工作范圍。 |
