電壓制熱型設(shè)備的缺陷確定方法、裝置、介質(zhì)及設(shè)備
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202210005588.4 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN114387242A | 公開(kāi)(公告)日 | 2022-04-22 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN114387242A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-04-22 |
分類號(hào) | G06T7/00(2017.01)I;G06T3/00(2006.01)I;G06T7/70(2017.01)I;G06V10/764(2022.01)I;G06V10/82(2022.01)I;G06K9/62(2022.01)I;G06N3/04(2006.01)I;G06N3/08(2006.01)I;G01J5/00(2022.01)I;G01N25/20(2006.01)I | 分類 | 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù); |
發(fā)明人 | 李辛;倪輝;張福榮;翟亮;查輝;馬瑞;陳磊;何慧均 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 上海熱像科技股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京品源專利代理有限公司 | 代理人 | 嚴(yán)慧 |
地址 | 753000寧夏回族自治區(qū)石嘴山市大武口區(qū)朝陽(yáng)西街225號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請(qǐng)實(shí)施例公開(kāi)了一種電壓制熱型設(shè)備的缺陷確定方法、裝置、介質(zhì)及設(shè)備。其中,該方法包括:通過(guò)獲取待處理的電壓制熱型設(shè)備的紅外圖像,并將紅外圖像轉(zhuǎn)換為灰度圖和溫度圖;將灰度圖輸入至預(yù)先訓(xùn)練的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型中,得到電壓制熱型設(shè)備的類型和電壓制熱型設(shè)備中三相絕緣瓷套的位置信息;根據(jù)溫度圖、待處理的電壓制熱型設(shè)備的類型和三相絕緣瓷套的位置信息,確定三相絕緣瓷套的最大溫差值;若最大溫差值大于或等于預(yù)設(shè)溫差閾值,則確定電壓制熱型設(shè)備存在電壓過(guò)熱型缺陷。本技術(shù)方案,可以實(shí)現(xiàn)電壓制熱型設(shè)備缺陷的確定及定位,提高電壓制熱型設(shè)備的缺陷檢測(cè)準(zhǔn)確率。 |
