集成電路芯片內(nèi)部的高精度電流檢測(cè)裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202210029225.4 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN114047798A 公開(kāi)（公告）日 2022-02-15
申請(qǐng)公布號(hào) CN114047798A 申請(qǐng)公布日 2022-02-15
分類號(hào) G05F1/56（2006.01）I;G01R19/00（2006.01）I 分類 控制；調(diào)節(jié);
發(fā)明人 不公告發(fā)明人 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 蘇州貝克微電子股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京三聚陽(yáng)光知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 陳剛
地址 215000江蘇省蘇州市高新區(qū)科技城科靈路78號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)包括一種集成電路芯片內(nèi)部的高精度電流檢測(cè)裝置，具體涉及電流檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。在該裝置中，第一開(kāi)關(guān)管與第二開(kāi)關(guān)管的柵極相連、第一開(kāi)關(guān)管與第二開(kāi)關(guān)管的源極相連；第二開(kāi)關(guān)管的漏極通過(guò)第一電阻與第一開(kāi)關(guān)管的漏極連接；第一開(kāi)關(guān)管的漏極與第二跟隨器連接，并接入目標(biāo)減法器的反相輸入端；第二開(kāi)關(guān)管的漏極與第一跟隨器連接，并接入目標(biāo)減法器的同相輸入端；目標(biāo)減法器的輸出端接入比較器的正端，以便與比較器的負(fù)端上的基準(zhǔn)電壓進(jìn)行比較，從而輸出比較結(jié)果。上述方案盡可能降低了第一開(kāi)關(guān)管與第二開(kāi)關(guān)管的鏡像電路比例偏差，提高了電流檢測(cè)的準(zhǔn)確性。