一種減小芯片發(fā)熱的電流檢測裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110854335.X 申請日 -
公開（公告）號 CN113495184B 公開（公告）日 2022-03-01
申請公布號 CN113495184B 申請公布日 2022-03-01
分類號 G01R19/00（2006.01）I;G01R15/00（2006.01）I;H02H3/087（2006.01）I;H02H7/20（2006.01）I;H02H9/02（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 不公告發(fā)明人 申請（專利權）人 蘇州貝克微電子股份有限公司
代理機構 北京三聚陽光知識產權代理有限公司 代理人 白淑君
地址 215000 江蘇省蘇州市高新區(qū)科技城濟慈路150號1幢
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請公開了一種電流檢測裝置，包括：能夠與目標電子設備中主功率MOS管形成電流鏡的檢測MOS管、第一開關管、差分模塊以及第一電阻；其中，檢測MOS管的第一端與第一電阻的第一端相連，檢測MOS管的控制端與第一開關管的第一端相連，第一電阻的第二端與VDD相連，檢測MOS管的第二端和開關管的第二端均接地，開關管的控制端與差分模塊的輸出端相連，差分模塊的第一端用于接收基準電壓，差分模塊的第二端與第一電阻的第一端相連。通過該電流檢測裝置，不僅可以避免第一電阻出現(xiàn)燒毀的現(xiàn)象，而且，也可以保證目標電子設備的安全穩(wěn)定運行。