一種電性能測(cè)試裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202021607786.0 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN213457135U 公開（公告）日 2021-06-15
申請(qǐng)公布號(hào) CN213457135U 申請(qǐng)公布日 2021-06-15
分類號(hào) G01R31/00（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 車瑞飛;辛廣興;余曉鑫;陳松磨 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 廣州創(chuàng)天電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市道臻知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 朱亞
地址 510000廣東省廣州市黃埔區(qū)來安一街8號(hào)之一
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型屬于電容測(cè)試領(lǐng)域，具體涉及一種電性能測(cè)試裝置，包括：測(cè)試架，設(shè)置在測(cè)試架上的第一電極測(cè)試臺(tái)，設(shè)置在第一電極測(cè)試臺(tái)上方可伸縮的第二電極頂針，以及設(shè)置在第一電極測(cè)試臺(tái)上方可上下運(yùn)動(dòng)的導(dǎo)電吸嘴，所述第二電極頂針滑動(dòng)穿設(shè)在測(cè)試架上；通過導(dǎo)電吸嘴可以用于抓取固定芯片電容器并與芯片電容器的其一電極板連接，其中第二電極頂針可伸縮的設(shè)置在第一電極測(cè)試臺(tái)上方，當(dāng)導(dǎo)電吸嘴向下運(yùn)動(dòng)時(shí)，碰到導(dǎo)電吸嘴的第二電極頂針會(huì)收縮并抵靠在導(dǎo)電吸嘴側(cè)面，直至導(dǎo)電吸嘴上的芯片電容器的另一電極板的下端接觸第一電極測(cè)試臺(tái)形成測(cè)試回路，即可配合測(cè)試電路板對(duì)芯片電容器進(jìn)行電性能測(cè)試，方便快捷，有效的縮短測(cè)試時(shí)間，提高測(cè)試效率。