一種芯片電容器檢測(cè)設(shè)備
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202021607774.8 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN212652205U | 公開(kāi)（公告）日 | 2021-03-05 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN212652205U | 申請(qǐng)公布日 | 2021-03-05 |
| 分類號(hào) | B07C5/38(2006.01)I;B07C5/02(2006.01)I;B07C5/34(2006.01)I;B07C5/36(2006.01)I;B07C5/344(2006.01)I | 分類 | 將固體從固體中分離；分選; |
| 發(fā)明人 | 吳浩;謝華;車瑞飛;辛廣興;陳松磨 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 廣州創(chuàng)天電子科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 深圳市道臻知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 朱亞 |
| 地址 | 510000廣東省廣州市黃埔區(qū)來(lái)安一街8號(hào)之一 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型屬于芯片電容器測(cè)試領(lǐng)域，具體涉及一種芯片電容器檢測(cè)設(shè)備，包括用于芯片電容器上料的上料裝置，用于檢測(cè)芯片電容器電性能的電性能檢測(cè)裝置，用于收納電性能不良品的電性能不良品料盤，用于測(cè)試芯片電容器外觀的外觀檢測(cè)裝置，用于收納傳送檢測(cè)合格的芯片電容器的合格品下料裝置，用于收納外觀不良品的外觀不良料盤，用于吸附抓取芯片電容器，并轉(zhuǎn)動(dòng)變換芯片電容器的工位的轉(zhuǎn)盤傳送裝置；其中，上料裝置、電性能檢測(cè)裝置、電性能不良品料盤、外觀檢測(cè)裝置、合格品下料裝置、外觀不良料盤成圓形依次排列在轉(zhuǎn)盤傳送裝置的外側(cè)。?? |
