一種磁阻器件測(cè)試裝置
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201721752244.0 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN207502612U | 公開(kāi)(公告)日 | 2018-06-15 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN207502612U | 申請(qǐng)公布日 | 2018-06-15 |
分類號(hào) | G01R27/08 | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 鄭律 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 江蘇森尼克電子科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 蘇州創(chuàng)元專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 | 代理人 | 江蘇森尼克電子科技有限公司;浙江森尼克半導(dǎo)體有限公司 |
地址 | 215634 江蘇省蘇州市張家港保稅區(qū)新興產(chǎn)業(yè)育成中心4棟253A室(森尼克) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實(shí)用新型公開(kāi)了一種磁阻器件測(cè)試裝置,其可以方便準(zhǔn)確地測(cè)試磁阻器件的參數(shù),從而有效地提高生產(chǎn)線上磁阻器件的測(cè)試效率。一種磁阻器件測(cè)試裝置,包括:載流導(dǎo)體,所述載流導(dǎo)體通有交流電以產(chǎn)生測(cè)試磁場(chǎng);第一電機(jī),用于驅(qū)動(dòng)所述載流導(dǎo)體在待測(cè)磁阻器件上方移動(dòng)以對(duì)所述待測(cè)磁阻器件進(jìn)行掃描;測(cè)試儀,用于測(cè)量待測(cè)磁阻器件兩端的電壓值。所述載流導(dǎo)體為金屬絲。還包括:葉片,用于模擬施加給所述待測(cè)磁阻器件的壓電噪聲;第二電機(jī),用于驅(qū)動(dòng)所述葉片旋轉(zhuǎn)。 |
