半導(dǎo)體單層薄膜反射干涉型光纖溫度探頭及其傳感裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201010240389.9 申請日 -
公開（公告）號 CN101936786A 公開（公告）日 2011-01-05
申請公布號 CN101936786A 申請公布日 2011-01-05
分類號 G01K11/32(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 黎敏;李玉林 申請（專利權(quán)）人 武漢精昱光傳感系統(tǒng)研究院有限公司
代理機(jī)構(gòu) 武漢宇晨專利事務(wù)所 代理人 武漢光子科技有限公司;武漢精昱光電科技有限公司
地址 430070 湖北省武漢市洪山區(qū)珞獅路397號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種半導(dǎo)體單層薄膜反射干涉型光纖溫度探頭及其傳感裝置，涉及一種溫度傳感器。本探頭是：在光纖(1)的一端面(12)上鍍有單層的半導(dǎo)體薄膜(13)。本傳感裝置是：光源(20)的輸出端與光分路器(30)的輸入端連接；光分路器(30)的輸出端與光纖溫度探頭(10)連接，光分路器(30)的返回端與光探測器(40)連接，光探測器(40)、后續(xù)處理電路(50)和微處理器(60)前后依次連接。本發(fā)明結(jié)構(gòu)更簡單，探頭更小只有0.1毫米，更方便安裝，適用范圍更廣；成本更低廉，對光源波長沒有特殊要求；系統(tǒng)易于補(bǔ)償，測溫分辨率高；適用于電力、化工、生物醫(yī)療等特殊場所的溫度實(shí)時(shí)在線監(jiān)測。