太陽能多晶硅電池片表面缺陷與沾污檢測設備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201210110124.6 申請日 -
公開（公告）號 CN103376255A 公開（公告）日 2013-10-30
申請公布號 CN103376255A 申請公布日 2013-10-30
分類號 G01N21/88(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 楊廣;趙潤川;權炳浩;廖國偉;丁正雍;陳利平;李波 申請（專利權）人 蘇州中導光電設備有限公司
代理機構 昆山四方專利事務所 代理人 蘇州中導光電設備有限公司
地址 215311 江蘇省蘇州市昆山市巴城鎮(zhèn)臨港工業(yè)園瑞安路8號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種太陽能多晶硅電池片表面缺陷與沾污檢測設備，照明室固定于機架上，照明室內設有光源，照明室的內壁上設有一層漫反射材料制成的涂層，傳送機構能夠傳送待檢測產(chǎn)品到照明室內光源形成的均勻光照區(qū)域，照明室上方的頂壁設有與待檢測產(chǎn)品位置正對的通光孔，所述成像裝置位于通光孔正上方的機架上，成像裝置能夠將圖片信息傳信給處理器，本發(fā)明通過照明室將光源的光線漫反射，使得投射在太陽能多晶硅電池片上的光斑亮度均勻性和角度均勻性非常高，進而消除了晶粒噪聲干擾，提高了太陽能多晶硅電池片表面檢測精度。