基質(zhì)輔助激光解析電離飛行時間質(zhì)譜儀的離子推斥方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201710485039.0 申請日 -
公開（公告）號 CN107331597B 公開（公告）日 2019-01-01
申請公布號 CN107331597B 申請公布日 2019-01-01
分類號 H01J49/06;H01J49/40 分類 基本電氣元件;
發(fā)明人 林志敏;周曉輝;凌曉群;施繼堅;肖鴻輝;孟寒玉 申請（專利權(quán)）人 江蘇天瑞儀器股份有限公司福建分公司
代理機(jī)構(gòu) 廈門南強(qiáng)之路專利事務(wù)所（普通合伙） 代理人 馬應(yīng)森
地址 400000 重慶市大渡口區(qū)建橋工業(yè)園C區(qū)太康路6號30棟第1-4層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 基質(zhì)輔助激光解析電離飛行時間質(zhì)譜儀的離子推斥方法，涉及飛行時間質(zhì)譜儀。提供可使基質(zhì)離子在到達(dá)檢測器之前被電場偏轉(zhuǎn)出去，以實現(xiàn)檢測器僅接收樣品離子，延長檢測器的使用壽命，同時增加儀器信噪比的基質(zhì)輔助激光解析電離飛行時間質(zhì)譜儀的離子推斥方法。在飛行時間質(zhì)量分析器無場區(qū)設(shè)置偏轉(zhuǎn)電極組；檢測并同步激光脈沖信號，將所述激光脈沖信號展寬；將所述激光脈沖信號展寬進(jìn)行放大，轉(zhuǎn)換為同步高壓脈沖，并施加于偏轉(zhuǎn)電極組上；基質(zhì)小分子在到達(dá)檢測器前，受脈沖電場作用發(fā)生偏轉(zhuǎn)無法到達(dá)檢測器，而樣品大分子在脈沖作用時間后經(jīng)過偏轉(zhuǎn)電極，不受電場影響正常檢測。