用于檢測(cè)異常數(shù)據(jù)的方法、設(shè)備和計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201811609044.9 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN109886016B 公開（公告）日 2021-01-12
申請(qǐng)公布號(hào) CN109886016B 申請(qǐng)公布日 2021-01-12
分類號(hào) G06F21/55;G06F21/56 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 黃鈴 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 慧安金科（北京）科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 代理人 慧安金科（北京）科技有限公司
地址 102412 北京市房山區(qū)閻村鎮(zhèn)閻富路1號(hào)17號(hào)樓4層407
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本公開的實(shí)施例提出了用于檢測(cè)異常數(shù)據(jù)的方法、設(shè)備和計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)。該方法包括：根據(jù)使用當(dāng)前的檢測(cè)器模型所確定的待檢測(cè)數(shù)據(jù)的第一異常指數(shù)，向外部數(shù)據(jù)分析資源發(fā)送所述待檢測(cè)數(shù)據(jù)中的至少一部分作為查詢數(shù)據(jù)；從所述外部數(shù)據(jù)分析資源接收針對(duì)所述查詢數(shù)據(jù)的分析結(jié)果；至少部分根據(jù)所述分析結(jié)果和所述待檢測(cè)數(shù)據(jù)來更新所述檢測(cè)器模型；以及根據(jù)使用經(jīng)更新的檢測(cè)器模型所確定的所述待檢測(cè)數(shù)據(jù)的第二異常指數(shù)，將所述待檢測(cè)數(shù)據(jù)中具有高于預(yù)定閾值的第二異常指數(shù)的數(shù)據(jù)確定為異常數(shù)據(jù)。