一種兼容多種規(guī)格光模塊老化測試的裝置
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202022273187.6 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN213544704U | 公開（公告）日 | 2021-06-25 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN213544704U | 申請(qǐng)公布日 | 2021-06-25 |
| 分類號(hào) | G01R31/00（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 張潤澤;黃慶;陳碩;王光輝;張紹友 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 成都市德科立菁銳光電子技術(shù)有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京市領(lǐng)專知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 張玲 |
| 地址 | 610000四川省成都市高新區(qū)（西區(qū)）天虹路5號(hào)3棟4層1號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型公開了一種兼容多種規(guī)格光模塊老化測試的裝置，包括測試板，還包括若干類型子測試板，所述測試板設(shè)有若干組主板數(shù)據(jù)接口；所述若干類型子測試板中任意一個(gè)類型的子測試板的一端設(shè)有子板數(shù)據(jù)接口，另一端設(shè)有光模塊數(shù)據(jù)接口；所述若干類型子測試板中任意兩個(gè)不同類型的子測試板的光模塊數(shù)據(jù)接口不同；所述若干類型子測試板中任意一個(gè)類型的子測試板的子板數(shù)據(jù)接口與測試板的若干組主板數(shù)據(jù)接口中任意一組主板數(shù)據(jù)接口相連接，光模塊數(shù)據(jù)接口用于與需測試的相匹配的光模塊連接。其有益效果是：采用一個(gè)裝置，實(shí)現(xiàn)對(duì)多種規(guī)格的光模塊測試，降低生產(chǎn)研發(fā)成本，提高生產(chǎn)效率。 |
