晶體管外形封裝的光電子器件直流性能測(cè)試系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201710206776.2 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN106932700A 公開(kāi)（公告）日 2017-07-07
申請(qǐng)公布號(hào) CN106932700A 申請(qǐng)公布日 2017-07-07
分類號(hào) G01R31/26 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 徐虎;陸一峰;楊彥偉;劉宏亮 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 深圳市芯思杰智能物聯(lián)網(wǎng)技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京友聯(lián)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 深圳市芯思杰智能物聯(lián)網(wǎng)技術(shù)有限公司
地址 518071 廣東省深圳市南山區(qū)學(xué)苑大道1001號(hào)南山智園A5棟4樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提出了一種晶體管外形封裝的光電子器件直流性能測(cè)試系統(tǒng)，包括：直流電源；多路控制板，其輸入端連接至直流電源，多路控制板包括多個(gè)通道；多路測(cè)試板，與多路控制板相連，用于裝配待測(cè)試的多個(gè)晶體管外形封裝的光電子器件，以使每個(gè)光電子器件與其對(duì)應(yīng)的通道相連，多個(gè)通道依次接通，當(dāng)任一通道接通時(shí)，直流電源通過(guò)接通的通道為其對(duì)應(yīng)的光電子器件提供電信號(hào)；以及性能參數(shù)檢測(cè)裝置，連接至多路控制板和/或多路測(cè)試板，用于檢測(cè)與接通的通道對(duì)應(yīng)的光電子器件的直流性能參數(shù)。通過(guò)本發(fā)明的技術(shù)方案，可以提高晶體管外形封裝的光電子器件的測(cè)試效率和準(zhǔn)確率，同時(shí)避免晶體管外形封裝的光電子器件直流性能測(cè)試系統(tǒng)的成本過(guò)高。