一種利用光學手段測量微小壓力的裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910783025.6 申請日 -
公開（公告）號 CN110487453B 公開（公告）日 2021-09-17
申請公布號 CN110487453B 申請公布日 2021-09-17
分類號 G01L1/24 分類 測量；測試;
發(fā)明人 不公告發(fā)明人 申請（專利權）人 中山科立特光電科技有限公司
代理機構 廣州市紅荔專利代理有限公司 代理人 吳偉文
地址 311200 浙江省杭州市蕭山區(qū)蕭山經濟技術開發(fā)區(qū)啟迪路198號C-712室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種利用光學手段測量微小壓力的裝置，包括主體，所述主體為空腔，并且主體內設置有滑動受力塊，該滑動受力塊將主體分為開口部和封閉腔體，所述封閉腔體內設置有多個納米金屬顆粒；利用光學手段測量微小壓力的裝置，通過微小壓力擠壓納米金屬顆粒，從而改變納米金屬顆粒之間的距離，從而對透射光的共振峰位置造成影響，通過檢測透射光的共振峰位置的變化，實現微小壓力的檢測，該利用光學手段測量微小壓力的裝置不僅結構簡單，而且具有更高的檢測靈敏度。