一種利用光學(xué)手段測(cè)量微小壓力的裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201910783025.6 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN110487453B 公開（公告）日 2021-09-17
申請(qǐng)公布號(hào) CN110487453B 申請(qǐng)公布日 2021-09-17
分類號(hào) G01L1/24 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 不公告發(fā)明人 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 中山科立特光電科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 廣州市紅荔專利代理有限公司 代理人 吳偉文
地址 311200 浙江省杭州市蕭山區(qū)蕭山經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)啟迪路198號(hào)C-712室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種利用光學(xué)手段測(cè)量微小壓力的裝置，包括主體，所述主體為空腔，并且主體內(nèi)設(shè)置有滑動(dòng)受力塊，該滑動(dòng)受力塊將主體分為開口部和封閉腔體，所述封閉腔體內(nèi)設(shè)置有多個(gè)納米金屬顆粒；利用光學(xué)手段測(cè)量微小壓力的裝置，通過(guò)微小壓力擠壓納米金屬顆粒，從而改變納米金屬顆粒之間的距離，從而對(duì)透射光的共振峰位置造成影響，通過(guò)檢測(cè)透射光的共振峰位置的變化，實(shí)現(xiàn)微小壓力的檢測(cè)，該利用光學(xué)手段測(cè)量微小壓力的裝置不僅結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，而且具有更高的檢測(cè)靈敏度。