SMD熱電堆探測(cè)器
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202120224793.0 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN214372946U | 公開(kāi)(公告)日 | 2021-10-08 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN214372946U | 申請(qǐng)公布日 | 2021-10-08 |
分類號(hào) | G01J5/12(2006.01)I;H01L35/32(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 李壯;孔令成 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 上海芯思微半導(dǎo)體技術(shù)有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 深圳茂達(dá)智聯(lián)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 徐文軍 |
地址 | 200000 上海市嘉定區(qū)嘉定工業(yè)區(qū)葉城路912號(hào)J11628室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實(shí)用新型公開(kāi)了一種SMD熱電堆探測(cè)器,包括PCB基板,所述PCB基板上設(shè)有熱電堆芯片、熱敏電阻芯片和金屬帽,所述熱電堆芯片和熱敏電阻芯片分別與PCB基板電連接,所述金屬帽用于封蓋熱電堆芯片和熱敏電阻芯片,所述金屬帽頂部與熱電堆芯片對(duì)應(yīng)的位置開(kāi)設(shè)有通孔,所述通孔內(nèi)設(shè)有紅外濾光片。本實(shí)用新型提供的SMD熱電堆探測(cè)器,可采用標(biāo)準(zhǔn)SMT工藝進(jìn)行安裝,具有更加扁平化的小尺寸優(yōu)勢(shì)、制造成本更加低廉、生產(chǎn)效率更高。 |
