一種鈮酸鋰集成光學(xué)器件及變溫穩(wěn)定性提升方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110889001.6 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113325512A | 公開(公告)日 | 2021-08-31 |
申請公布號 | CN113325512A | 申請公布日 | 2021-08-31 |
分類號 | G02B6/12(2006.01)I;G02B6/132(2006.01)I | 分類 | 光學(xué); |
發(fā)明人 | 段啟航;范建強(qiáng);楊廣;李樓;王嘉 | 申請(專利權(quán))人 | 西安中科華芯測控有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 西安通大專利代理有限責(zé)任公司 | 代理人 | 李鵬威 |
地址 | 710119陜西省西安市高新區(qū)西部大道60號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提出了一種鈮酸鋰集成光學(xué)器件,所述鈮酸鋰集成光學(xué)器件包括鈮酸鋰光波導(dǎo)芯片、尾纖支座、金屬管殼和保偏光纖,所述尾纖支座和所述鈮酸鋰光波導(dǎo)芯片均固定設(shè)置在所述金屬管殼內(nèi),所述尾纖支座上安裝有所述鈮酸鋰光波導(dǎo)芯片,所述保偏光纖穿過所述金屬管殼的輸入光纖槽和輸出光纖槽,所述鈮酸鋰光波導(dǎo)芯片的前側(cè)面、后側(cè)面和下表面均覆蓋有導(dǎo)電薄膜,所述下表面、前側(cè)面和后側(cè)面上任意兩點(diǎn)之間均為導(dǎo)通狀態(tài)。大批量測試試驗(yàn)結(jié)果統(tǒng)計(jì)表明,采用本發(fā)明技術(shù)生產(chǎn)的鈮酸鋰集成光學(xué)器件,變溫測試過程中未出現(xiàn)插入損耗、分光比等參數(shù)突跳現(xiàn)象,有效提升了鈮酸鋰集成光學(xué)器件變溫工作的穩(wěn)定性。 |
