用于眾核計(jì)算芯片可測(cè)性設(shè)計(jì)的電路、裝置及方法
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202010202413.3 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN111308329A | 公開（公告）日 | 2020-06-19 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN111308329A | 申請(qǐng)公布日 | 2020-06-19 |
| 分類號(hào) | G01R31/317(2006.01)I;G01R31/3187(2006.01)I | 分類 | - |
| 發(fā)明人 | 楊全校;萬(wàn)曉船 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 深圳芯行科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京酷愛智慧知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 深圳芯行科技有限公司 |
| 地址 | 518129廣東省深圳市龍崗區(qū)坂田街道南坑社區(qū)雅寶路1號(hào)A30-03B | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種用于眾核計(jì)算芯片可測(cè)性設(shè)計(jì)的電路、裝置及方法，所述眾核計(jì)算芯片存在預(yù)設(shè)的分類標(biāo)記，且包括多個(gè)計(jì)算核心，各計(jì)算核心分配有各自不同的核心ID；測(cè)試時(shí)，控制各計(jì)算核心測(cè)試過程的進(jìn)行，包括測(cè)試數(shù)據(jù)的選擇和測(cè)試過程控制；并將測(cè)試數(shù)據(jù)的發(fā)送給計(jì)算核心，根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)對(duì)各計(jì)算核心進(jìn)行測(cè)試，并根據(jù)測(cè)試結(jié)果，記錄失效計(jì)算核心數(shù)目及對(duì)應(yīng)的核心ID；最后根據(jù)測(cè)試結(jié)果修改眾核計(jì)算芯片的分類標(biāo)記并進(jìn)行修復(fù)；其效果是：通過對(duì)每個(gè)計(jì)算核心的計(jì)算結(jié)果進(jìn)行檢測(cè)來(lái)判斷計(jì)算核心的功能正確性，避免了使用掃描鏈技術(shù)需要用到的掃描觸發(fā)器，從而節(jié)省了芯片面積成本；另外，測(cè)試過程由硬件自動(dòng)完成，保證了測(cè)試的時(shí)效性。?? |
