校正X-ray探測器中的探測通道的方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201810997124.X 申請日 -
公開（公告）號 CN109211946B 公開（公告）日 2021-08-27
申請公布號 CN109211946B 申請公布日 2021-08-27
分類號 G01N23/046（2018.01）I;G01T7/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 奚道明;吳杰;陳瑞;劉葦;曾晨;張鵬飛;謝慶國 申請（專利權(quán)）人 蘇州瑞邁斯醫(yī)療科技有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 215163江蘇省蘇州市高新區(qū)錦峰路8號17號樓北樓201-1室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請公開了一種校正X?ray探測器中的探測通道的方法，其包括：S1，運算放大器向比較器的第一輸入端提供基準信號，控制器控制比較器的第二輸入端的電壓，并且計數(shù)器記錄比較器在不同的電壓下輸出的信號的跳變次數(shù)；S2，處理器計算每個探測通道所對應的所有跳變次數(shù)當中的按順序記錄的跳變次數(shù)兩兩之間的差值，并且根據(jù)差值來計算探測通道的響應電壓；S3，處理器根據(jù)響應電壓和光信號的能量峰值來計算探測通道的校正系數(shù)，并且根據(jù)校正系數(shù)來計算探測通道校正后的響應電壓。通過本申請?zhí)峁┑姆椒ǎ梢岳肵?ray探測器的內(nèi)部器件來采集探測通道輸出的電信號并計算校正后的響應電壓，而不需要額外的器件來采集電信號，因而降低了硬件開銷和成本。