一種棒狀高反射率零件表面缺陷檢測(cè)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201610905045.2 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN106353340B 公開(kāi)（公告）日 2019-07-16
申請(qǐng)公布號(hào) CN106353340B 申請(qǐng)公布日 2019-07-16
分類(lèi)號(hào) G01N21/952 分類(lèi) 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 王磊;段子爽 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 廈門(mén)威芯泰科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京聯(lián)瑞聯(lián)豐知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 廈門(mén)威芯泰科技有限公司
地址 361008 福建省廈門(mén)市軟件園二期觀日路32號(hào)303室11區(qū)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提出一種棒狀高反射率零件表面缺陷檢測(cè)方法，涉及表面缺陷檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，檢測(cè)步驟如下：1)開(kāi)啟主光源照明，采集得到待檢零件第一圖像；2)保持第一光源開(kāi)啟狀態(tài)并同時(shí)打開(kāi)第二光源，采集得到待檢零件第二圖像；3)對(duì)通過(guò)步驟1)采集得到的第一圖像進(jìn)行處理，分割提取出待檢零件的棒狀區(qū)域并確定檢測(cè)區(qū)域；4)在通過(guò)步驟3)提取得到的棒狀區(qū)域中對(duì)于通過(guò)步驟2)采集獲得的第二圖像進(jìn)行圖像處理，分析檢測(cè)其表面質(zhì)量。本發(fā)明能夠克服棒狀高反射率零件表面不均勻的反光造成的機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)障礙，算法簡(jiǎn)單，檢測(cè)高效，可實(shí)現(xiàn)對(duì)棒狀高反射率零件表面的多種不良缺陷的精確檢測(cè)。