一種微陣列芯片激光共焦掃描儀的校準(zhǔn)方法
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202010576829.1 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN111751339A | 公開（公告）日 | 2020-10-09 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN111751339A | 申請(qǐng)公布日 | 2020-10-09 |
| 分類號(hào) | G01N21/64(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 吉鋒;張冠斌;宋馳騁;李婷;鄒凌;尹維 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 成都博奧獨(dú)立醫(yī)學(xué)實(shí)驗(yàn)室有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 成都九鼎天元知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 成都博奧晶芯生物科技有限公司;成都博奧獨(dú)立醫(yī)學(xué)實(shí)驗(yàn)室有限公司 |
| 地址 | 611135四川省成都市溫江區(qū)永寧鎮(zhèn)八一路北段88號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明提供了一種微陣列芯片激光共焦掃描儀的校準(zhǔn)方法：步驟1、對(duì)標(biāo)準(zhǔn)機(jī)和被校儀器的熒光校準(zhǔn)通道設(shè)置掃描參數(shù)，對(duì)同一校準(zhǔn)芯片進(jìn)行掃描，得到一組標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)和待測(cè)數(shù)據(jù)；步驟2、計(jì)算該組數(shù)據(jù)的線性相關(guān)系數(shù)和斜率；步驟3、更改參數(shù)重復(fù)步驟1和步驟2共N次，得到N組的線性相關(guān)系數(shù)和斜率；步驟4、根據(jù)每組數(shù)據(jù)的線性相關(guān)系數(shù)，得到符合修正條件的組數(shù)M；步驟5；判斷符合步驟4修正條件的組數(shù)的斜率，得到數(shù)據(jù)是否符合修正條件的組數(shù)L，符合則計(jì)算L組數(shù)據(jù)的斜率均值；步驟6、將斜率均值作為修正值，完成該通道的校準(zhǔn)；步驟7、更換熒光通道重復(fù)步驟1～6，完成多通道的校準(zhǔn)。本發(fā)明校準(zhǔn)方法提高校準(zhǔn)數(shù)據(jù)量，校準(zhǔn)覆蓋面更廣。?? |
