激光微陣列芯片掃描儀的濃度梯度熒光校準片及校準方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201911148674.5 申請日 -
公開（公告）號 CN110865058A 公開（公告）日 2020-03-06
申請公布號 CN110865058A 申請公布日 2020-03-06
分類號 G01N21/64 分類 測量；測試;
發(fā)明人 安爽;張冠斌;梁冬;趙淑英 申請（專利權(quán)）人 成都博奧獨立醫(yī)學實驗室有限公司
代理機構(gòu) 成都九鼎天元知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 成都博奧獨立醫(yī)學實驗室有限公司;綿陽市人民醫(yī)院
地址 611130 四川省成都市溫江區(qū)永寧鎮(zhèn)八一路北段88號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種激光微陣列芯片掃描儀的濃度梯度熒光校準片及其校準方法，濃度梯度熒光校準片包括玻璃基片和布置在玻璃基片表面的無機納米熒光液點陣；無機納米熒光液點陣包括若干個無機納米熒光液分點陣，每個無機納米熒光液分點陣的無機熒光混合液液滴呈A行×B列排列，無機納米熒光液分點陣中同一行無機納米熒光液液滴的溶液濃度相同且相鄰兩行無機納米熒光液液滴的溶液濃度呈倍數(shù)關(guān)系變化，其中，A為5～20，B為10～40。所述校準方法使用上述激光微陣列芯片掃描儀的濃度梯度熒光校準片對待測機掃描儀進行校準并以無機納米熒光液分點陣中第1行的無機納米熒光液滴作為索引標志。本發(fā)明的制備方法操作簡單、生產(chǎn)周期短且成本低廉，校準效果好。