一種測量絕緣材料電離及電荷遷移參數(shù)的試樣結構及方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910702593.9 申請日 -
公開（公告）號 CN110398672B 公開（公告）日 2021-08-03
申請公布號 CN110398672B 申請公布日 2021-08-03
分類號 G01R31/12（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 任雙贊;吳經鋒;吳昊;劉晶;郝東新;牛博;楊傳凱;尚宇;吳鍇;吳洋 申請（專利權）人 國網陜西省電力公司電力科學研究院
代理機構 西安通大專利代理有限責任公司 代理人 王艾華
地址 710054陜西省西安市長安區(qū)航天中路669號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種測量絕緣材料電離及電荷遷移參數(shù)的試樣結構及方法，試樣結構，由第一阻擋材料、被測材料和第二阻擋材料組成，使用電導率遠低于被測材料并且具有高注入閾值的阻擋材料，能夠實現(xiàn)阻擋電極對試樣進行電荷的注入和被測材料中的電荷向外遷移。測量方法采用了改進的電聲脈沖（PEA）法空間電荷測量裝置，將被測試樣結構放入測量裝置中，通過恒溫循環(huán)油浴將試樣結構加熱到指定溫度，利用PEA法測量溫度、電場條件下被測材料試樣中材料電離產生的空間電荷特性。本發(fā)明主要測量絕緣材料中電離產生的空間電荷特性。