偏光片貼合檢測(cè)設(shè)備的檢測(cè)方法、校準(zhǔn)方法及相關(guān)設(shè)備

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202111681423.0 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN114370993A 公開（公告）日 2022-04-19
申請(qǐng)公布號(hào) CN114370993A 申請(qǐng)公布日 2022-04-19
分類號(hào) G01M11/02（2006.01）I;G01M11/04（2006.01）I;G02F1/13（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 黃奕宏;韓寧寧;秦超;尹國(guó)偉;王東東;陳軍;張新明 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 深圳市深科達(dá)智能裝備股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 代理人 田琴琴
地址 518103廣東省深圳市寶安區(qū)福永街道征程二路2號(hào)A棟、B棟第一至三層、C棟第一層、D棟
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明實(shí)施例公開了偏光片貼合檢測(cè)設(shè)備的檢測(cè)方法、校準(zhǔn)方法及相關(guān)設(shè)備，用于對(duì)至少一個(gè)顯示面板進(jìn)行檢測(cè)，顯示面板i包括玻璃面板、第一偏光片和第二偏光片，顯示面板i是至少一個(gè)顯示面板中的任一顯示面板，所述方法包括：控制顯示面板i移動(dòng)到指定的位置；對(duì)第一平面中的至少一個(gè)待檢測(cè)區(qū)域進(jìn)行拍照得到第一圖片集；第一平面是第一表面和第一偏光片對(duì)應(yīng)的面；對(duì)第二平面中的至少一個(gè)待檢測(cè)區(qū)域進(jìn)行拍照得到第二圖片集；第二平面是第二表面和第二偏光片對(duì)應(yīng)的面；根據(jù)所述第一圖片集得到第一表面與第一偏光片的第一貼合精度；根據(jù)第二圖片集得到第二表面與第二偏光片的第二貼合精度。本發(fā)明可以提高偏光片貼合精度的檢測(cè)效率和檢測(cè)精度。